薄膜测厚仪_薄膜厚度测试仪 (CHY-C2)

薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。

薄膜测厚仪采用世界***先技术，精度高达0.1um，多次测量结果高度一致性；操作调试方便，测量结果进行统计、分析、打印输出；

薄膜测厚仪可连接计算机，根据客户的需求选择按数据表统计或柱状图进行统计两种方式，同时还可以试验的数据转换成网页格式，实际在网络或局域网内进行数据的传输。

薄膜测厚仪技术指标：

测量范围：0～2mm（常规）

0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：10次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询